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Avec son testeur compact CT440, EXFO accélère les tests de précision des composants optiques passifs (MUX/DEMUX, filtres, séparateurs, etc.) et des modules (ROADM, WSS). Son domaine spectral de 1240 à 1680 nm couvre l’intégralité de la bande passante. L’option perte dépendante de la polarisation (PDL) permet de mesurer simultanément la perte d’insertion (IL).
Le testeur CT440 (modèle SMF) couvre un domaine spectral de 1240 à 1680 nm grâce à sa compatibilité avec les lasers accordables T100S-HP d’EXFO. Il peut donc passer automatiquement d’un laser à l’autre pour mesurer en continu l’intégralité de la bande. La présence d’un dispositif sous test (DUT) élimine la nécessité d’un interrupteur externe.
Combinant l’électronique à grande vitesse et l’interférométrie optique, le CT440 et ses quatre détecteurs intégrés mesurent simultanément quatre canaux en un seul balayage de la plage dynamique 65 dB. De plus, la précision de longueur d’onde de ±5 pm peu importe la vitesse de balayage garantit une exécution rapide et des résultats de grande précision.
Solution économique et hautement précise, le testeur CT440 réunit dans un seul boîtier un photodétecteur de surveillance, la résolution d’échantillonnage réglable, une rare précision de longueur d’onde et un ondemètre intégré. Interfacé avec une source laser accordable et un PC, il livre rapidement des mesures d’une grande exactitude.