光子集成电路测试

光子集成电路（PIC）在电信界是一项广为人知的技术，这主要是由于收发器和无源元器件疯狂发展，它们比光元器件更小、更快、更便宜、更环保。 从商业和研究的角度来看，PIC也在其他领域（如芯片实验室、激光雷达技术或量子计算）发展迅猛。

灵活、准确、快速的PIC测试

1. 测试有源元器件

有源元器件的测试，如PIC上的激光器和放大器，非常简单直接。

光谱分析仪（OSA）可用来测试有源元器件，只需要将光源或激光器的输出端口连接到OSA上，便可以得到光源的光谱信号（如下图所示）。

图5：使用OSA测试有源元器件

业内领先的OSA具有非常迅速的优点，能够以2000 nm/s的速度，每秒完成五次扫描，这足以进行实时的元器件校准，且分辨率非常高，可以测量关键的参数，如OSNR和SMSR。

2. 测试无源元器件

在测试无源元器件时，CTP10在任何测试条件下都能够提供快速、准确、可靠的结果。CTP10可以在一次扫描中最多鉴定50个光端口的光谱特性，即使在以100 nm/s的速度进行扫描时，其分辨率也可达1 pm，动态范围超过75 dB。它采用电子设备和内部处理器，使数据传输变得轻而易举。可以使用SCPI命令远程控制CTP10，使集成变得更加方便简单，成为PIC测试自动设置的一个部分。

CTP10元器件测试平台是一个多端口的监测系统，可结合T100S-HP扫频式可调谐激光器，测量光插损和回损。这种模块化平台最多可安装50个功率计，非常适用于测试高端口数设备，如AWG，还可以控制多个可调谐激光器并行执行测量，从而提高吞吐量并缩短测试时间。