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光子集成电路测试

灵活、准确、快速的PIC测试。确保高度可靠的下一代光元器件。

您的挑战

  • 可靠地测量目前的复杂光元器件
  • 需要晶圆测试
  • 快速、高效地进行PIC测试
  • 准确地评估元器件的质量
  • 将大规模测试自动化
  • 没有光子测试专业技术

描述

光子集成电路(PIC)在电信界是一项广为人知的技术,这主要是由于收发器和无源元器件疯狂发展,它们比光元器件更小、更快、更便宜、更环保。 从商业和研究的角度来看,PIC也在其他领域(如芯片实验室、激光雷达技术或量子计算)发展迅猛。

灵活、准确、快速的PIC测试

1. 测试有源元器件

有源元器件的测试,如PIC上的激光器和放大器,非常简单直接。

光谱分析仪(OSA)可用来测试有源元器件,只需要将光源或激光器的输出端口连接到OSA上,便可以得到光源的光谱信号(如下图所示)。

图5:使用OSA测试有源元器件

业内领先的OSA具有非常迅速的优点,能够以2000 nm/s的速度,每秒完成五次扫描,这足以进行实时的元器件校准,且分辨率非常高,可以测量关键的参数,如OSNR和SMSR。

2. 测试无源元器件

在测试无源元器件时,CTP10在任何测试条件下都能够提供快速、准确、可靠的结果。CTP10可以在一次扫描中最多鉴定50个光端口的光谱特性,即使在以100 nm/s的速度进行扫描时,其分辨率也可达1 pm,动态范围超过75 dB。它采用电子设备和内部处理器,使数据传输变得轻而易举。可以使用SCPI命令远程控制CTP10,使集成变得更加方便简单,成为PIC测试自动设置的一个部分。

CTP10元器件测试平台是一个多端口的监测系统,可结合T100S-HP扫频式可调谐激光器,测量光插损和回损。这种模块化平台最多可安装50个功率计,非常适用于测试高端口数设备,如AWG,还可以控制多个可调谐激光器并行执行测量,从而提高吞吐量并缩短测试时间。

CTP10——元器件测试平台

在测试无源光元器件时,CTP10在任何测试条件下都能够为研发和制造环境提供快速、准确、可靠的结果。CTP10可以提供高分辨率的鉴定,即使在光谱特性对比度很高的情况下也是如此。

主要优势

采用研发级解决方案提供一流的测量,提升生产效率。OSA20可在几秒的时间内鉴定有源元器件(如收发器内的激光器、半导体光放大器)。

即使在严格的条件下,CTP10都能够以皮米分辨率测试无源光元器件。

灵活性是5G竞赛的关键。这些解决方案的设计着眼于未来,与研究小组合作完成,因此可以集成到任何晶圆测试处理系统中,包括校准过程。CTP10是一个不断发展的模块化平台,可逐渐在系统上增加其它或新的功能。它兼容多款可调谐激光器。

CTP10可安装在一台主机内,只需按一次按钮便可以测试元器件。

OSA20和CTP10均已配备了分析功能和特别的测试配置,便于轻松安装设置。

GUI人性化程度高,没有牺牲任何性能。

只要有全套的SCPI自动化命令,用户就可以完全控制该测试设备,并将其集成到研究测试或生产测试系统内。

应用

  • 有源和无源元器件测试
  • 马赫-曾德尔调制器鉴定
  • AWG测试
  • 环形谐振腔光谱测量
  • 收发器:发射激光器测试

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