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CTP10 - 元器件测试平台

无可比拟的无源光元器件测试平台,适用于测试DWDM网和光子集成电路

规格表 (PDF) 用户手册 (PDF)

所有产品 CTP10 - 元器件测试平台
所有产品 CTP10 - 元器件测试平台

主要优点

  • 业内最快的插损(IL)和回损(RL)测量
  • 单次扫描的动态范围为70 dB,速度为1000 nm/s
  • 可安装多达10个热插拔模块
  • 最多可支持60个检测器,每个检测器的工作速度为1 Msps
  • 配备强大、直观的GUI,便于配置测试和分析测量结果

应用

  • Photonic integrated circuits
  • Multiple-output passive optical component testing in manufacturing
  • High-loss contrast device testing (wavelength selective switch)

描述

CTP10是一种模块化测量平台,可高效地全天候测试无源元器件。它使您能够以70 dB的动态范围、前所未有的速度以及分辨率,通过一次扫描测量插损和回损。CTP10是鉴定DWDM网中所用的大端口数元器件以及光子集成电路(PIC)的理想仪表。

下一代平台和模块

CTP10平台可安装多达10个热插拔模块,并配有嵌入式操作系统,用于处理海量数据。

无可比拟的性能

CTP10拥有市场上最快的扫频和步进式插损与回损测量性能。它单次扫描的动态范围为70 dB,速度为1000 nm/s。

强大、直观的GUI

嵌入式软件提供强大、直观的GUI,可在两个屏幕上显示:一个用于测试设备设置的图形化配置,另一个用于显示和分析测量结果。

CTP10 - 元器件测试平台

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