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CTP10 - 无源光器件测试平台

性能强大的无源光器件测试平台,适用于测试WDM器件和光子集成电路

规格书 (PDF) 用户手册 (PDF)

所有产品 CTP10 - 无源光器件测试平台
所有产品 CTP10 - 无源光器件测试平台

主要优点

  • 扫频测量插损(IL)、偏振相关损耗(PDL)或回损(RL)
  • 业内率先支持全波段PDL测量,覆盖从1260 nm到1620 nm的波长
  • 以100 nm/s的速度进行单次扫描,动态范围>70 dB,精度为±5 pm,分辨率为1 pm
  • 配备强大的图形用户界面(GUI),内置先进的分析功能
  • 通过SCPI命令实现全自动化操作
  • 采用可扩展的架构,适用于研发和制造环境

应用

  • PIC晶圆级测试
  • 制造和研发环境中的多输入无源光器件测试
  • WSS和ROADM校准与测试
  • 薄膜滤波器(TFF)鉴定

描述

CTP10是一种模块化测量平台,可高效地全天候测试无源器件。通过它,您能够以前所未有的动态范围、速度和分辨率执行插损(IL)、偏振相关损耗(PDL)或回损(RL)测量。CTP10是测量高速WDM网络中的新型大端口数光器件和和光子集成电路(PIC)的理想设备。它可以结合T100S-HP系列扫频可调谐激光器,在几秒钟内完成IL-RL或IL-PDL测量。 

下一代平台和模块

CTP10平台可安装多达10个热插拔模块,包括用于光谱鉴定的各种关键模块(IL-RL OPM2或IL-PDL模块)、波长控制模块(SCAN SYNC和FBC模块)以及检测模块(OPMx模块)。这些完全集成的模块可以热插拔,从而大大减少设置时间,并提供一个非常灵活、不断发展的测试解决方案。

CTP10内置操作系统,可处理大量的数据。它还提供一个可扩展的架构,由最多8个测试站共享一个或多个可调谐激光器,并添加一个辅助主机,以测试100多个端口。

性能强劲

CTP10可进行非常迅速的扫频IL RL或PDL光谱测量。它提供不折不扣的高性能,并在全速测试时达到一流的规格要求。OPMx免测距系列光检测器能够以100 nm/s的速率、1 pm的分辨率进行扫描,测量的动态范围超过70 dB,从而大幅提高制造和研发能力。OPMx检测器还可以精确测量高达10 dB/pm(10000 dB/nm)的清晰光谱特征,使CTP10成为未来测量波长可选择开关(WSS)或环形谐振器等下一代器件的可靠工具。

GUI强大直观

CTP10围绕三个关键原则被开发出来:集成、性能和自动化。其内置软件提供强大、直观的GUI,从而简化测试配置和测量过程。CTP10可无缝地控制外接可调谐激光器,让您专注于真正重要的事情:测量和分析数据。GUI集成了一整套工具以分析通带(如WDM或WSS)和阻带滤波器。

CTP10 - 无源光器件测试平台

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