Automatisierte Tests photonisch integrierter Schaltungen (PIC)

Ein skalierbarer, automatisierter Ansatz für das Testen photonisch integrierter Schaltungen

Tests sind über den gesamten Lebenszyklus der Photoniktechnik hinweg von entscheidender Bedeutung – von Design und Validierung bis hin zur Fertigung. EXFO bietet einen vollständigen, flexiblen und reproduzierbaren Ansatz für das Testen von photonisch integrierten Schaltungen (PIC) und optischen Komponenten. Durch die Kombination automatisierter OPAL-Teststationen, leistungsstarker optischer Testgeräte und der EXFO-Pilot-Automatisierungssoftware können Labore und Produktionslinien ihre Testprozesse optimieren und zuverlässige, datenbasierte Ergebnisse erzielen.

Bewährte Leistung für skalierbare PIC-Tests

Von der frühen photonischen Forschung bis zur Serienfertigung liefert der automatisierte Ansatz von EXFO präzise und reproduzierbare Messungen in jeder Phase des PIC-Lebenszyklus.

Vollständiger automatisierter PIC-Testworkflow – vom Forschungslabor bis zur Fertigung

Skalierbare Architektur zur Unterstützung von Single‑Die‑, Multi‑Die‑ und Wafer‑Level‑Tests

Kompatibel mit EXFO‑ und Drittanbieterinstrumenten für eine flexible Integration

Automatisieren und skalieren Sie PIC-Tests – von Einzelchips bis zur Wafer‑Level‑Charakterisierung

Der integrierte Testansatz von EXFO kombiniert automatisierte OPAL-Probestationen, branchenführende optische Testinstrumente und die Automatisierungssoftware EXFO Pilot. Zusammen bilden diese Komponenten eine flexible und skalierbare Plattform, die sowohl Forschungslabore und F&E‑Umgebungen als auch die Hochvolumenfertigung unterstützt.

OPAL-Stationen ermöglichen eine präzise optische Ausrichtung und reproduzierbare Messungen, während die modularen optischen Testgeräte von EXFO fortschrittliche Charakterisierungsfunktionen bieten, darunter Messungen mit durchstimmbaren Lasern, Tests passiver Komponenten, optisches Schalten und Dämpfungssteuerung. EXFO Pilot steuert den gesamten Testworkflow – von Einrichtung und Gerätesteuerung bis hin zur Messanalyse – und wandelt Rohdaten in verwertbare Erkenntnisse um.

OPAL-SD

Eine halbautomatisierte Einstiegs-Probestation für Single‑Die‑Tests. Sie bietet flexible, kosteneffiziente und erweiterbare Leistung mit automatischer optischer Ausrichtung und rückverfolgbaren Testergebnissen. Die manuelle Positionierung des Dies und der elektrischen Sonden macht sie zu einer praktischen Lösung für hochpräzise Tests.

OPAL-MD

Eine leistungsstarke Multi‑Die‑Teststation, die schnelle, genaue und reproduzierbare Ergebnisse liefert. Sie wurde für die fortschrittliche Charakterisierung integrierter Photonik entwickelt und ermöglicht flexible Testkonfigurationen. Die OPAL‑MD ist offen für EXFO‑ und Drittanbieterinstrumente und unterstützt umfassende, datengetriebene PIC‑Tests.

OPAL-EC

Eine hochmoderne Wafer‑Level‑Teststation, optimiert für Edge‑Coupling. Sie bietet branchenführende Genauigkeit, Geschwindigkeit und Flexibilität für die Charakterisierung integrierter Photonik. Die OPAL‑EC ist ideal für präzise Wafer‑Level‑PIC‑Tests und kombiniert die optischen Messfunktionen von EXFO mit der Kompatibilität zu Drittanbieterinstrumenten.

Entwickelt für skalierbare, automatisierte PIC-Tests

Ein vollständiges Ökosystem (automatisierte Stationen, optische Testgeräte und Automatisierungssoftware), das für flexible, reproduzierbare und hochpräzise Charakterisierung entwickelt wurde – von Einzel- und Multi‑Die‑Tests bis hin zum Wafer‑Level.

Vollständiges Ökosystem: automatisierte Stationen, optische Testgeräte und Automatisierungssoftware in einer Lösung

Skalierbare Architektur für Single‑Die‑, Multi‑Die‑ und Wafer‑Level‑Edge‑Coupling‑Tests

Offene Integration mit EXFO‑ und Drittanbieterinstrumenten für flexible Labor- und Fertigungsumgebungen

Hochpräzise, reproduzierbare optische Ausrichtung für eine zuverlässige Charakterisierung photonischer Bauelemente

Umfassende Tests für Entwicklung und Produktion integrierter Photonik

Tests photonisch integrierter Schaltungen erfordern präzise Messungen und reproduzierbare Workflows in Forschungs- und Fertigungsumgebungen. Die Lösung von EXFO adressiert zentrale Herausforderungen bei photonischen Tests durch die Automatisierung von Messprozessen und ermöglicht eine konsistente Charakterisierung in großem Maßstab.

Tests aktiver und passiver Komponenten

Charakterisierung von Mach‑Zehnder‑Modulatoren

Tests von Arrayed‑Waveguide‑Gittern (AWG)

Transmissionstests von Lasern für Transceiver

Funktionale Transceiver‑Tests wie Bitfehlerrate (BER) und Hochgeschwindigkeits‑Augendiagramme

Functional transceiver testing such as BER and high‑speed eye diagrams