OPAL-EC - Station de test avancée à couplage latéral pour plaquettes photoniques

Tests précis, flexibles et rapides des circuits photoniques intégrés (PIC), avec des résultats traçables.

Station de test pour plaquettes PIC en silicium à couplage latéral

OPAL-EC permet des tests évolutifs au niveau de la plaquette pour les PIC à couplage latéral, favorisant des essais automatisés à haute densité pour les fonderies et la R&D avancée. La suite logicielle EXFO Pilot renforce les capacités matérielles de l’OPAL-EC en automatisant la station de test et en fournissant des mesures de qualité convertibles en données exploitables.

Plate-forme OPAL-EC

Le matériel de la station comprend un système de mouvement à 4 axes ultra-répétable pour le positionnement des plaquettes, offrant une rotation jusqu’à 105° avec un plateau capable de maintenir des plaquettes allant jusqu’à 12 pouces (300 mm), avec contrôle thermique en option.

Des plaques adaptatrices permettent de tester des puces uniques, des barres ou plusieurs puces, rendant la station compatible avec tous les formats. Elle peut accueillir jusqu’à quatre têtes de sondes, optiques ou électriques selon les besoins.

La station est également équipée d’un système de vision par le haut en lumière directe à haute résolution, ainsi que de systèmes de vision latérale télécentriques.

Logiciel d'automatisation Pilot

EXFO Pilot est une plateforme logicielle qui orchestre le flux complet des tests et mesures PIC : (i) préparation des tests, (ii) exécution de la navigation, de l'alignement et des mesures entièrement automatisés à un débit élevé et (iii) analyse et gestion des données des résultats.

Il transforme la station OPAL-EC en une station de test automatisée et une source de mesures de qualité qui peuvent être transformées en données exploitables. La suite complète d'applications prend en charge l'ensemble du flux de tests et de mesures, tout en permettant aux utilisateurs à s'orienter davantage vers les données.

Tests complets PIC

Combinée aux capacités de mesures optiques avancées d'EXFO, aux sources laser accordables (T200S /T500S), aux plateformes de test de composants passifs (CTP10) et adaptée aux instruments externes, cette plateforme complète est la solution idéale pour tester les circuits intégrés photoniques.

Caractéristiques principales

Plateforme complète de test de PIC pour un alignement optique et un contact électrique précis et répétable.

Préparation, exécution automatisée (navigation, alignement, contrôle des instruments) et gestion des données (stockage, analyse) grâce à la suite logicielle EXFO Pilot incluse.

Différentes options de têtes de sondes selon les besoins : modèles de têtes optiques avec jusqu’à 6 axes motorisés pour le couplage en surface ou latéral avec des fibres individuelles ou des réseaux de fibres ; têtes électriques avec axes manuels ou motorisés.

Répétabilité de pointe des têtes de sondes optiques et des systèmes de mouvement de base.

Première solution de l’industrie pour le test à couplage latéral multiport au niveau de la plaquette.

Tests sur plaquettes, stretch-tape, plusieurs puces ou barres avec une seule station.

Conception flexible avec sondes optiques et RF/DC repositionnables.

Compatible avec des plaquettes jusqu’à 12 pouces (300 mm).

Applications

De la R&D, vérification de conception et développement de procédés à la préproduction et la fabrication.

Tests optoélectroniques sur plateformes de photonique intégrée : silicium, phosphure d’indium, III-V, polymère, hétérogène.

Analyse statistique approfondie du rendement et des performances des circuits.

Indépendant du type de dispositif : puces individuelles (une à plusieurs dizaines), réticules, découpes personnalisées, barres, plaquettes jusqu’à 12 pouces.

Indépendant de l’application : émetteur-récepteur télécom/datacom, quantique, LIDAR, capteurs, IA — pour couplage en surface ou latéral avec fibre unique ou réseau de fibres, du prototypage à la production pilote.