Les stations OPAL permettent un alignement optique précis et des mesures reproductibles, tandis que les testeurs optiques modulaires d’EXFO offrent des capacités avancées de caractérisation, telles que les mesures à l’aide de lasers accordables, les tests de composants passifs, la commutation optique et le contrôle de l’atténuation. EXFO Pilot orchestre l’ensemble du flux de test — de la configuration et du pilotage des instruments à l’analyse des mesures — transformant les données brutes en informations exploitables.

OPAL-SD

Station de test semi-automatisée d’entrée de gamme pour les tests de puces uniques. Elle offre des performances flexibles, économiques et évolutives, avec un alignement optique automatisé et des résultats de test traçables. Le positionnement manuel de la puce et des sondes électriques en fait une solution pratique pour les tests de haute précision.

OPAL-MD

Station de test multi-puces haute performance, offrant des résultats rapides, précis et reproductibles. Conçue pour la caractérisation avancée de la photonique intégrée, elle permet des configurations de test flexibles. Ouverte aux instruments EXFO et tiers, la station OPAL‑MD prend en charge des tests PIC complets et pilotés par les données.

OPAL-EC

Station de test de pointe pour les tests au niveau de la plaquette, optimisée pour le couplage en bord de puce. Elle offre une précision, une rapidité et une flexibilité de premier plan pour la caractérisation de la photonique intégrée. L’OPAL‑EC est idéale pour les tests PIC précis au niveau de la plaquette, combinant les capacités de mesure optique d’EXFO et la compatibilité avec des instruments tiers.