FTBx-3500 - Atténuateur variable
Idéal pour les tests d'émetteurs-récepteurs et la vérification de systèmes dans des environnements de production exigeants, 24 heures sur 24 et 7 jours sur 7.
Produits
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MOA-3800 - Atténuateur optique variable
L'atténuateur variable (VOA) monomode et multimode peut ajouter de l'atténuation à 4, 8 ou 16 chemins optiques; un mode auto-ajustement est également disponible, qui contrôle et règle automatiquement la puissance de sortie au niveau de puissance souhaité.
OS-BKR
OS-ATN - Atténuateur optique variable haute puissance
Combinant des composants d'atténuation standard et une large gamme d'atténuation, l'OSICS ATN vous offre la possibilité de fonctionner sur une large gamme de longueurs d'onde.
OPAL-SD - Station de sondes semi-automatisée pour puce unique
Solution d'entrée de gamme, flexible, économique et évolutive. Alignement optique et test automatisés des circuits intégrés photoniques (PIC) avec des résultats traçables et consultables. Positionnement manuel de la puce et des sondes électriques.
En vedette
EA-4000 - Oscilloscope d'échantillonnage optique et électrique
La lunette d'échantillonnage la plus rapide du secteur. Une solution puissante pour la chaîne de production 5G.
MCB - Module Compliance Boardpour tester les émetteurs-récepteurs de nouvelle génération
La carte de conformité du module (MCB) permet la communication en série entre le testeur de taux d'erreur sur les bits (BER) et l'émetteur-récepteur optique.
En vedette
CD-4000 - Récepteur de détection de taux d'erreur binaire optique et électrique pour 28 GBd/56 GBd
Une solution CDR efficace pour la ligne de production.
MA-4000
En vedette
BA-4000 Bit Analyzer - Testeur de taux d'erreur de bits 800G électrique
BERT électrique supportant le codage NRZ et PAM4, avec outils FEC et capacités de test jusqu'à 800G.
OS-T100 - OSICS T100 - Module laser accordable à cavité externe
Modules laser accordables à cavité externe étagée couvrant toutes les longueurs d'onde des télécommunications
En vedette
T500S - Laser accordable continûment en fréquence de grande puissance
Des tests plus fiables et plus rapides de composants optiques, incluant les circuits photoniques intégrés.