Documents techniques

Fiches techniques, guides de référence, livres blancs… Vous y trouverez tout ce qu’il faut savoir sur l’orchestration de tests et l’analyse 3D en temps réel.

Fiche technique
BA-1600 - 中文 (15 novembre 2025)
Fiche technique
BA-1600 - English (15 novembre 2025)
Fiche technique
BA-1600 - Français (15 novembre 2025)
Fiche technique
Microscope d’inspection de fibres FIP-500 - Italiano (15 novembre 2025)
Fiche technique
Microscope d’inspection de fibres FIP-500 - English (15 novembre 2025)
Fiche technique
Microscope d’inspection de fibres FIP-500 - Français (15 novembre 2025)
Fiche technique
Microscope d’inspection de fibres FIP-500 - Deutsch (15 novembre 2025)
Fiche technique
Microscope d’inspection de fibres FIP-500 - 中文 (15 novembre 2025)
Fiche technique
AXS-120 – OTDR compact - English (14 novembre 2025)
Fiche technique
AXS-120 – OTDR compact - Français (14 novembre 2025)
Fiche technique
AXS-120 – OTDR compact - Español (14 novembre 2025)
Fiche technique
AXS-120 – OTDR compact - Deutsch (14 novembre 2025)
Fiche technique
AXS-120 – OTDR compact - 中文 (14 novembre 2025)
Fiche technique
AXS-120 – OTDR compact - 日本語 (14 novembre 2025)
Fiche technique
CT440/CT440-PDL - Français (12 novembre 2025)
Fiche technique
CT440/CT440-PDL - English (12 novembre 2025)
Fiche technique
CT440/CT440-PDL - 中文 (12 novembre 2025)
Fiche technique
FTBx-5245/5255 optical spectrum analyzers - English (11 novembre 2025)
Fiche technique
FTBx-5245/5255 optical spectrum analyzers - Français (11 novembre 2025)
Fiche technique
OTH-7000 - 日本語 (11 novembre 2025)
Fiche technique
OTH-7000 - English (11 novembre 2025)
Fiche technique
OTH-7000 - Français (11 novembre 2025)
Fiche technique
OTH-7000 - Español (11 novembre 2025)
Fiche technique
OTH-7000 - Deutsch (11 novembre 2025)
Fiche technique
OTH-7000 - 中文 (11 novembre 2025)
Fiche technique
OPAL-EC – Station de test de découplage au niveau du wafer - English (08 novembre 2025)
Fiche technique
OPAL-EC – Station de test de découplage au niveau du wafer - Français (08 novembre 2025)
Fiche technique
OPAL-EC – Station de test de découplage au niveau du wafer - 中文 (08 novembre 2025)
Fiche technique
OPAL-MD : station de test multi-matrices - English (08 novembre 2025)
Fiche technique
OPAL-MD : station de test multi-matrices - Français (08 novembre 2025)
Fiche technique
OPAL-MD : station de test multi-matrices - 中文 (08 novembre 2025)
Fiche technique
OPAL-MD : station de test multi-matrices - 日本語 (08 novembre 2025)
Fiche technique
Série FTBx-88800 - English (07 novembre 2025)
Fiche technique
Série FTBx-88800 - Français (07 novembre 2025)
Fiche technique
Série FTBx-88800 - 中文 (07 novembre 2025)
Fiche technique
Atténuateur variable FVA-600 - English (07 novembre 2025)
Fiche technique
Atténuateur variable FVA-600 - Français (07 novembre 2025)
Fiche technique
Atténuateur variable FVA-600 - 中文 (07 novembre 2025)