T200M : laser accordable pour la caractérisation spectrale à grand volume

L'augmentation des débits de données et la miniaturisation des circuits intégrés photoniques (PIC) accentuent la nécessité de tester davantage de dispositifs, sur un plus grand nombre de bandes, sans pour autant alourdir les coûts ni la complexité.

Conçu pour la production en grande série, le nouveau laser à syntonisation continue T200M offre :

• Une intégration simplifiée avec la plateforme EXFO CTP10 afin de faciliter le déploiement sur plusieurs stations de test.
• Une couverture étendue des bandes O et CL pour tester une gamme plus large de composants optiques et de dispositifs photoniques.
• Des tests de production précis, reproductibles et automatisés, avec une résolution de longueur d’onde de 0,1 pm et un déclenchement par longueur d’onde de précision.
• Un fonctionnement autonome via un PC externe pour la validation technique, le développement de processus, le soutien à la production et les activités de recherche.