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XTA-50 - Filtre à bande passante accordable

Commande électronique. Réglage précis et distinct de la longueur d’onde centrale et de la largeur de bande. Domaine spectral de 1260 à 1650 nm et largeur de bande de 32 pm (4 GHz) à 5 nm.

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XTM-50 - Filtre à bande passante accordable

Filtre XTM-50 avec réglage précis et indépendant de la longueur d’onde et de la largeur de bande. Commande manuelle. Compatibles avec les principales longueurs d’onde : domaine spectral de 1260 à 1650 nm et largeur de bande de 32 pm (4 GHz) à 5 nm.

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Filtres accordables

La longueur d'onde et la bande passante de nos filtres optiques sont accordables. Nos filtres offrent un rendement supérieur, quelle que soit votre application. Découvrez notre offre leader de filtres accordables ultra-sélectifs à bande passante étroite et sommet plat.

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FTBx-3500 - Atténuateur variable

Idéal pour les tests d'émetteurs-récepteurs et la vérification de systèmes dans des environnements de production exigeants, 24 heures sur 24 et 7 jours sur 7.

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MOA-3800 - Atténuateur optique variable

L'atténuateur variable (VOA) monomode et multimode peut ajouter de l'atténuation à 4, 8 ou 16 chemins optiques; un mode auto-ajustement est également disponible, qui contrôle et règle automatiquement la puissance de sortie au niveau de puissance souhaité.

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OS-BKR Produits
Atténuateurs variables

Les atténuateurs variables font partie intégrante de la plupart des configurations de caractérisation des amplificateurs optiques dopés à l'erbium (EDFA) et de test de taux d'erreur binaire (BER). Tous nos atténuateurs variables modulaires (gamme IQS) et de table sont conçus pour un rendement optimal et une haute précision et offrent une variété de fonctionnalités et de spécifications pour s'adapter à diverses exigences de test.

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OSICS ATN - Atténuateur optique variable haute puissance

Combinant des composants d'atténuation standard et une large gamme d'atténuation, l'OSICS ATN vous offre la possibilité de fonctionner sur une large gamme de longueurs d'onde.

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Stations de test automatisées pour PIC

Nos stations de test intègrent des équipements haut de gamme afin de garantir le respect des exigences, quelle que soit la situation. Composez la station qui vous convient le mieux, que vous testiez des puces individuelles pour la R-D ou même des plaquettes de production complètes. Les stations de test adaptatives d'EXFO peuvent gérer tous les scénarios, des puces individuelles aux plaquettes de production complètes, en matière de circuits intégrés photoniques (PIC). Équipez votre station avec des sondes RF, des têtes optiques ou avec tout autre équipement, selon vos besoins.

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OPAL-SD - Station de test semi-automatisée pour puce unique

Solution d'entrée de gamme, flexible, économique et évolutive. Alignement optique et test automatisés des circuits intégrés photoniques (PIC) avec des résultats traçables et consultables. Positionnement manuel de la puce et des sondes électriques.

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