Résultats de la recherche

Les atténuateurs variables font partie intégrante de la plupart des configurations de caractérisation des amplificateurs optiques dopés à l'erbium (EDFA) et de test de taux d'erreur binaire (BER). Tous nos atténuateurs variables modulaires (gamme IQS) et de table sont conçus pour un rendement optimal et une haute précision et offrent une variété de fonctionnalités et de spécifications pour s'adapter à diverses exigences de test.

Combinant des composants d'atténuation standard et une large gamme d'atténuation, l'OSICS ATN vous offre la possibilité de fonctionner sur une large gamme de longueurs d'onde.

Solution d'entrée de gamme, flexible, économique et évolutive. Alignement optique et test automatisés des circuits intégrés photoniques (PIC) avec des résultats traçables et consultables. Positionnement manuel de la puce et des sondes électriques.

Nos stations de test intègrent des équipements haut de gamme afin de garantir le respect des exigences, quelle que soit la situation. Composez la station qui vous convient le mieux, que vous testiez des puces individuelles pour la R-D ou même des plaquettes de production complètes. Les stations de test adaptatives d'EXFO peuvent gérer tous les scénarios, des puces individuelles aux plaquettes de production complètes, en matière de circuits intégrés photoniques (PIC). Équipez votre station avec des sondes RF, des têtes optiques ou avec tout autre équipement, selon vos besoins.

La lunette d'échantillonnage la plus rapide du secteur. Une solution puissante pour la chaîne de production 5G.

La carte de conformité du module (MCB) permet la communication en série entre le testeur de taux d'erreur sur les bits (BER) et l'émetteur-récepteur optique.

Une solution CDR efficace pour la ligne de production.