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CTP10是一种模块化测量平台,可高效地全天候测试无源器件。通过它,您能够以前所未有的动态范围、速度和分辨率执行插损(IL)、偏振相关损耗(PDL)或回损(RL)测量。CTP10是测量高速WDM网络中的新型大端口数光器件和和光子集成电路(PIC)的理想设备。它可以结合T100S-HP系列扫频可调谐激光器,在几秒钟内完成IL-RL或IL-PDL测量。
CTP10平台可安装多达10个热插拔模块,包括用于光谱鉴定的各种关键模块(IL-RL OPM2或IL-PDL模块)、波长控制模块(SCAN SYNC和FBC模块)以及检测模块(OPMx模块)。这些完全集成的模块可以热插拔,从而大大减少设置时间,并提供一个非常灵活、不断发展的测试解决方案。
CTP10内置操作系统,可处理大量的数据。它还提供一个可扩展的架构,由最多8个测试站共享一个或多个可调谐激光器,并添加一个辅助主机,以测试100多个端口。
CTP10可进行非常迅速的扫频IL RL或PDL光谱测量。它提供不折不扣的高性能,并在全速测试时达到一流的规格要求。OPMx免测距系列光检测器能够以100 nm/s的速率、1 pm的分辨率进行扫描,测量的动态范围超过70 dB,从而大幅提高制造和研发能力。OPMx检测器还可以精确测量高达10 dB/pm(10000 dB/nm)的清晰光谱特征,使CTP10成为未来测量波长可选择开关(WSS)或环形谐振器等下一代器件的可靠工具。
CTP10围绕三个关键原则被开发出来:集成、性能和自动化。其内置软件提供强大、直观的GUI,从而简化测试配置和测量过程。CTP10可无缝地控制外接可调谐激光器,让您专注于真正重要的事情:测量和分析数据。GUI集成了一整套工具以分析通带(如WDM或WSS)和阻带滤波器。
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"Highly accurate and automated measurements of insertion loss and PDL from 1240 nm to 1680 nm with powerful data processing significantly shortens testing time."
Advanced module in passive optical component testing platform