Stations de test automatisées pour PIC
Nos stations de test intègrent des équipements haut de gamme afin de garantir le respect des exigences, quelle que soit la situation. Composez la station qui vous convient le mieux, que vous testiez des puces individuelles pour la R-D ou même des plaquettes de production complètes. Les stations de test adaptatives d'EXFO peuvent gérer tous les scénarios, des puces individuelles aux plaquettes de production complètes, en matière de circuits intégrés photoniques (PIC). Équipez votre station avec des sondes RF, des têtes optiques ou avec tout autre équipement, selon vos besoins.
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Nouveau
OPAL-EC - Station de test avancée à couplage latéral pour plaquettes photoniques
Tests précis, flexibles et rapides des circuits photoniques intégrés (PIC), avec des résultats traçables.
OPAL-MD - Station de test automatisée multi-puces
Test précis, automatisé et rapide des circuits intégrés photoniques (PIC) avec des résultats traçables.
OPAL-SD - Station de test semi-automatisée pour puce unique
Solution d'entrée de gamme, flexible, économique et évolutive. Alignement optique et test automatisés des circuits intégrés photoniques (PIC) avec des résultats traçables et consultables. Positionnement manuel de la puce et des sondes électriques.