集成的光子器件可包括光谱对比度高的复杂光器件。例如,环形谐振腔可能具有非常尖锐的谐振曲线,使得难以鉴定插损。此外,还需要以相同的精度测量某些器件的回损或偏振相关损耗。最后,还需要同时测试多个器件或单个器件的输出,以加快鉴定PIC的速度。为了测试这类器件,可以将T500S激光器与EXFO的器件测试平CTP10结合起来使用。CTP10能够以高分辨率和高精度进行光谱测量,是一款集成的解决方案,它可以充分利用T500S的性能,以200 nm/s的速度进行双向扫描。T500S还兼容CT440,后者是一款紧凑的EXFO器件测试仪,速度可达100 nm/s。