Las estaciones OPAL permiten una alineación óptica precisa y mediciones repetibles, mientras que los instrumentos ópticos modulares de EXFO ofrecen capacidades avanzadas de caracterización, como mediciones con láser sintonizable, pruebas de componentes pasivos, conmutación óptica y control de atenuación. EXFO Pilot coordina todo el flujo de trabajo de pruebas —desde la configuración y el control de instrumentos hasta el análisis de mediciones— transformando los datos sin procesar en información accionable.

OPAL-SD

Estación de sondas semi‑automatizada de nivel inicial para pruebas de chip único. Ofrece un rendimiento flexible, rentable y actualizable, con alineación óptica automatizada y resultados de prueba trazables. El posicionamiento manual del chip y de las sondas eléctricas la convierte en una solución práctica para pruebas de alta precisión.

OPAL-MD

Estación de prueba de múltiples chips de alto rendimiento que ofrece resultados rápidos, precisos y repetibles. Está diseñada para la caracterización avanzada de fotónica integrada y admite configuraciones de prueba flexibles. Abierta a instrumentos de EXFO y de terceros, la OPAL‑MD permite pruebas PIC completas y basadas en datos.

OPAL-EC

Estación de prueba de última generación a nivel de oblea, optimizada para acoplamiento por borde (edge‑coupling). Proporciona precisión, velocidad y flexibilidad líderes en la industria para la caracterización de fotónica integrada. La OPAL‑EC es ideal para pruebas PIC precisas a nivel de oblea y combina las capacidades de medición óptica de EXFO con compatibilidad con instrumentos de terceros.