规格书
FTBx-9160 MEMS光开关 - English
(2026年4月27日)
规格书
FTBx-9160 MEMS光开关 - 中文
(2026年4月27日)
规格书
FTBx-9160 MEMS光开关 - Français
(2026年4月27日)
规格书
OPAL-EC——晶圆级端面耦合 测试台 - English
(2026年4月27日)
规格书
OPAL-EC——晶圆级端面耦合 测试台 - Français
(2026年4月27日)
规格书
OPAL-EC——晶圆级端面耦合 测试台 - 中文
(2026年4月27日)
规格书
OPAL-MD – multi-die test station - 日本語
(2026年4月27日)
规格书
OPAL-MD – multi-die test station - English
(2026年4月27日)
规格书
OPAL-MD – multi-die test station - Français
(2026年4月27日)
规格书
OPAL-MD – multi-die test station - 中文
(2026年4月27日)
规格书
OPAL-SD - 单裸片测试解决方案 - English
(2026年4月27日)
规格书
OPAL-SD - 单裸片测试解决方案 - Français
(2026年4月27日)
规格书
OPAL-SD - 单裸片测试解决方案 - 中文
(2026年4月27日)
规格书
FTBx-1750/OHS-1700 - English
(2026年4月22日)
规格书
FTBx-1750/OHS-1700 - Français
(2026年4月22日)
规格书
FTBx-1750/OHS-1700 - 中文
(2026年4月22日)
规格书
BA-1600-OSFP - English
(2026年4月22日)
规格书
BA-1600-OSFP - Français
(2026年4月22日)
规格书
BA-1600-OSFP - 中文
(2026年4月22日)
规格书
OTH-7000 - English
(2026年4月20日)
规格书
OTH-7000 - 日本語
(2026年4月20日)
规格书
OTH-7000 - Français
(2026年4月20日)
规格书
OTH-7000 - Español
(2026年4月20日)
规格书
OTH-7000 - Deutsch
(2026年4月20日)
规格书
OTH-7000 - 中文
(2026年4月20日)
白皮书
基于错误掩码和误 块率(BLER)的 接收器性能验证方法 - English
(2026年4月15日)
白皮书
基于错误掩码和误 块率(BLER)的 接收器性能验证方法 - Français
(2026年4月15日)
白皮书
基于错误掩码和误 块率(BLER)的 接收器性能验证方法 - 中文
(2026年4月15日)
参考指南
Guide on tips, SmarTips and adapters for EXFO’s inspection scopes (FIP-500, FIP-400B and FIP-200) - English
(2026年4月09日)
参考指南
Guide on tips, SmarTips and adapters for EXFO’s inspection scopes (FIP-500, FIP-400B and FIP-200) - Français
(2026年4月09日)
规格书
FTBx-750D - English
(2026年4月02日)
规格书
FTBx-750D - Français
(2026年4月02日)
规格书
FTBx-750D - Deutsch
(2026年4月02日)
规格书
FTBx-750D - Español
(2026年4月02日)
规格书
FTBx-750D - 中文
(2026年4月02日)