CT440/CT440-PDL - 无源元器件测试仪

概述
紧凑的测试仪，用于快速、准确地鉴定无源光元器件

主要优点

  • 快速测量变化函数
  • 波长范围为1240-1680 nm（SMF型号）
  • PM和PDL选件
  • 波长分辨率为1-250 pm
  • 波长精度为±5 pm
  • 单次扫描的动态范围为65 dB

应用

  • Photonic integrated circuit (PIC) testing
  • Wavelength selective switch testing
  • Optical filter testing

资源

规格书

CT440/CT440-PDL
用户手册

CT440 passive optical component tester
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