BA-4000 Bit Analyzer - 800G电误码率分析仪

支持FEC余量(FEC margin)计算的误码率分析仪。

主要优点

支持100G(4x28 GBd)、400G(8x56 GBd)和800G(8x56GBd)速率
支持NRZ和PAM4编码
支持PRBS 7/9/11/13/15/23/31/13Q/31Q和SSPRQ码型
FEC功能:生成RS-FEC Scrambled Idle码型,以测试53 GBd host侧接口
通道模拟
插入突发/随机的错误
支持线性/格雷码映射
O-SMPM连接

应用

光模块测试与验证
TOSA和ROSA等组件测试
FPGA、MCB和HCB测试

描述

Bit error rate (BER) is a key performance attribute for digital communications. The signal transmission quality of a network, subsystem or component, can be evaluated using a BER tester, which compares the data stream received to the transmitted sequence and computes the number of errors.


The BA-4000 Bit Analyzer is an electrical NRZ/PAM4 BER tester designed for the production floor. It comes in six models:

  • BA-4000-4-28-NRZ: 100G BERT including 4-channel NRZ 28 Gbit/s.
  • BA-4000-8-28-NRZ: 200G BERT including 8-channel NRZ 28 Gbit/s.
  • BA-4000-4-28-PAM: 100G/200G BERT enabling either 4-channel NRZ 28 Gbit/s or 4-channel PAM4 28 GBd.
  • BA-4000-4-56-PAM: 200G/400G BERT enabling either 4-channel NRZ 56 Gbit/s or 4-channel PAM4 56 GBd.
  • BA-4000-8-28-PAM: 200G/400G BERT suitable for either 8-channel NRZ 28 Gbit/s or 8-channel PAM4 28 GBd.
  • BA-4000-8-56-PAM: 400G/800G BERT suitable for either 8-channel NRZ 56 Gbit/s or 8-channel PAM4 56 GBd.


The BA-4000 Bit Analyzer leverages FEC simulation capabilities to provide powerful analysis for burst error. Some of the main FEC features are:

  • PRBS error check and correction
  • Pre-FEC and Post-FEC BER
  • KP4/KR4 and low latency FEC protocols
  • FEC Generator and Checker (FGC) to address RS-FEC Scrambled Idle Pattern
  • FEC symbol error distribution plot: codewords vs symbols errors
  • FEC margin auto-calculation
应用说明
399 - BA-4000-L2-RCNC LPO transceivers - English (2025年3月12日)
应用说明
399 - BA-4000-L2-RCNC LPO transceivers - Français (2025年3月12日)
应用说明
399 - BA-4000-L2-RCNC LPO transceivers - 日本語 (2025年3月12日)
应用说明
399 - BA-4000-L2-RCNC LPO transceivers - 中文 (2025年3月12日)
传单和宣传册
Lab-to-fab, Fab-to-live - RCNC - English (2025年4月08日)
传单和宣传册
Lab-to-fab, Fab-to-live - RCNC - 日本語 (2025年4月08日)
传单和宣传册
Lab-to-fab, Fab-to-live - RCNC - Français (2025年4月08日)
网络研讨会
Optimizing power usage as data centers shift to 800G - 中文 (2024年1月17日)
博客
如何应对可插拔收发器的端到端测试挑战? - 中文 (2021年1月17日)
网络研讨会
From 400G to 800G: encoded FEC - 中文 (2023年5月17日)
网络研讨会
Still bogged down by issues when rolling out next-gen high speeds from R&D to manufacturing? - 中文 (2023年5月16日)
应用说明
Unveiling the secrets of 200G/400G optical transceivers - English (2020年3月20日)
附录
Notice Important Information BA-4000 - English (2022年11月23日)
附录
Notice Important Information BA-4000 - Français (2022年11月23日)
传单和宣传册
性能优异的800G传输测试解决方案 - English (2021年10月26日)
传单和宣传册
性能优异的800G传输测试解决方案 - 中文 (2021年10月26日)
传单和宣传册
性能优异的800G传输测试解决方案 - 日本語 (2021年10月26日)
应用说明
Testing next-gen PIC-based transceivers - English (2021年7月07日)

支持