Documentación técnica

Hojas de especificaciones, guías de referencia, informes técnicos. Encuentre todo lo que necesita para obtener más información acerca de nuestra orquestación de prueba y nuestras soluciones de análisis en 3D, en tiempo real.

Hoja de especificaciones
FTBx-570 single‑ended dispersion analyzer - English (mayo 13, 2026)
Hoja de especificaciones
FTBx-570 single‑ended dispersion analyzer - Français (mayo 13, 2026)
Hoja de especificaciones
FTBx-570 single‑ended dispersion analyzer - Deutsch (mayo 13, 2026)
Hoja de especificaciones
FTBx-570 single‑ended dispersion analyzer - 中文 (mayo 13, 2026)
Posters de referencia
Testing photonic integrated circuits and passive components - English (mayo 12, 2026)
Posters de referencia
Testing photonic integrated circuits and passive components - 中文 (mayo 12, 2026)
Notas de aplicación
Sub-picometer measurements using the CTP10 logging function - English (mayo 12, 2026)
Informe técnico
Mitigating multimillion-dollar risks in hollow core fiber deployment - English (mayo 07, 2026)
Informe técnico
Mitigating multimillion-dollar risks in hollow core fiber deployment - Français (mayo 07, 2026)
Hoja de especificaciones
FTB Lite 720D - 日本語 (mayo 07, 2026)
Hoja de especificaciones
FTB Lite 720D - English (mayo 07, 2026)
Hoja de especificaciones
FTB Lite 720D - Français (mayo 07, 2026)
Hoja de especificaciones
FTB Lite 720D - Español (mayo 07, 2026)
Hoja de especificaciones
FTB Lite 720D - Deutsch (mayo 07, 2026)
Hoja de especificaciones
FTB Lite 720D - Italiano (mayo 07, 2026)
Hoja de especificaciones
CTP10 - English (mayo 05, 2026)
Hoja de especificaciones
CTP10 - Français (mayo 05, 2026)
Hoja de especificaciones
CTP10 - 中文 (mayo 05, 2026)
Hoja de especificaciones
OPAL-EC: edge-coupling wafer-level test station - English (abril 27, 2026)
Hoja de especificaciones
OPAL-EC: edge-coupling wafer-level test station - Français (abril 27, 2026)
Hoja de especificaciones
OPAL-EC: edge-coupling wafer-level test station - 中文 (abril 27, 2026)
Hoja de especificaciones
OPAL-MD – multi-die test station - 日本語 (abril 27, 2026)
Hoja de especificaciones
OPAL-MD – multi-die test station - English (abril 27, 2026)
Hoja de especificaciones
OPAL-MD – multi-die test station - Français (abril 27, 2026)
Hoja de especificaciones
OPAL-MD – multi-die test station - 中文 (abril 27, 2026)
Hoja de especificaciones
OPAL-SD - single-die testing - English (abril 27, 2026)
Hoja de especificaciones
OPAL-SD - single-die testing - Français (abril 27, 2026)
Hoja de especificaciones
OPAL-SD - single-die testing - 中文 (abril 27, 2026)
Hoja de especificaciones
BA-1600-OSFP - English (abril 22, 2026)
Hoja de especificaciones
BA-1600-OSFP - Français (abril 22, 2026)
Hoja de especificaciones
BA-1600-OSFP - 中文 (abril 22, 2026)