Documentación técnica
Hojas de especificaciones, guías de referencia, informes técnicos. Encuentre todo lo que necesita para obtener más información acerca de nuestra orquestación de prueba y nuestras soluciones de análisis en 3D, en tiempo real.
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Hoja de especificaciones
FTBx-570 single‑ended dispersion analyzer - English
(mayo 13, 2026)
Hoja de especificaciones
FTBx-570 single‑ended dispersion analyzer - Français
(mayo 13, 2026)
Hoja de especificaciones
FTBx-570 single‑ended dispersion analyzer - Deutsch
(mayo 13, 2026)
Hoja de especificaciones
FTBx-570 single‑ended dispersion analyzer - 中文
(mayo 13, 2026)
Posters de referencia
Testing photonic integrated circuits and passive components - English
(mayo 12, 2026)
Posters de referencia
Testing photonic integrated circuits and passive components - 中文
(mayo 12, 2026)
Notas de aplicación
Sub-picometer measurements using the CTP10 logging function - English
(mayo 12, 2026)
Informe técnico
Mitigating multimillion-dollar risks in hollow core fiber deployment - English
(mayo 07, 2026)
Informe técnico
Mitigating multimillion-dollar risks in hollow core fiber deployment - Français
(mayo 07, 2026)
Hoja de especificaciones
FTB Lite 720D - 日本語
(mayo 07, 2026)
Hoja de especificaciones
FTB Lite 720D - English
(mayo 07, 2026)
Hoja de especificaciones
FTB Lite 720D - Français
(mayo 07, 2026)
Hoja de especificaciones
FTB Lite 720D - Español
(mayo 07, 2026)
Hoja de especificaciones
FTB Lite 720D - Deutsch
(mayo 07, 2026)
Hoja de especificaciones
FTB Lite 720D - Italiano
(mayo 07, 2026)
Hoja de especificaciones
CTP10 - English
(mayo 05, 2026)
Hoja de especificaciones
CTP10 - Français
(mayo 05, 2026)
Hoja de especificaciones
CTP10 - 中文
(mayo 05, 2026)
Hoja de especificaciones
OPAL-EC: edge-coupling wafer-level test station - English
(abril 27, 2026)
Hoja de especificaciones
OPAL-EC: edge-coupling wafer-level test station - Français
(abril 27, 2026)
Hoja de especificaciones
OPAL-EC: edge-coupling wafer-level test station - 中文
(abril 27, 2026)
Hoja de especificaciones
OPAL-MD – multi-die test station - 日本語
(abril 27, 2026)
Hoja de especificaciones
OPAL-MD – multi-die test station - English
(abril 27, 2026)
Hoja de especificaciones
OPAL-MD – multi-die test station - Français
(abril 27, 2026)
Hoja de especificaciones
OPAL-MD – multi-die test station - 中文
(abril 27, 2026)
Hoja de especificaciones
OPAL-SD - single-die testing - English
(abril 27, 2026)
Hoja de especificaciones
OPAL-SD - single-die testing - Français
(abril 27, 2026)
Hoja de especificaciones
OPAL-SD - single-die testing - 中文
(abril 27, 2026)
Hoja de especificaciones
BA-1600-OSFP - English
(abril 22, 2026)
Hoja de especificaciones
BA-1600-OSFP - Français
(abril 22, 2026)
Hoja de especificaciones
BA-1600-OSFP - 中文
(abril 22, 2026)