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Guide on tips, SmarTips and adapters for EXFO’s inspection scopes (FIP-500, FIP-400B and FIP-200)
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OPAL-EC——晶圆级端面耦合 测试台
精准、灵活、快速地测试光子集成电路(PIC),提供可追溯的测试结果。
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OPAL-SD - 单裸片测试解决方案
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OPAL-MD – multi-die test station
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iOLM(光眼)
简化OTDR测试,并提高鉴定各种网络拓扑的精确 度。iOLM(光眼)采用智能的算法,可在各种情况 下适应测试需求。iOLM(光眼)目前在业内依然无 可匹敌,它能够以非常高的分辨率动态地定位并识别 所有网络器件和故障——这一切仅需轻按一个按钮。
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FLS-190 high-power visual fault locator (VFL)
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OPAL-SD
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OPAL-EC
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PXM/LXM
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SCPI Commands Power Blazer and NetBlazer
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