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可变衰减器是大多数BER测试和EDFA鉴定设置的主要部分。EXFO的所有模块化（IQS系列）和台式可变衰减器专为实现出色的性能和准确度而设计。所有型号均提供不同的功能和规格组合以满足各种测试需求。

OSICS ATN集成了行业标准的衰减器元器件，具有很宽的衰减范围，可在很大的波长范围内工作。

我们的测试站采用最先进的设备，确保在任何情况下都能满足要求。无论您是要测试用于研发的单个芯片，还是要测试整个生产晶圆，我们都能为您建立最合适的测试站。 在光子集成电路 (PIC) 方面，EXFO 的适应性测试站可处理从单个芯片到整个生产晶圆的任何情况。根据需要，为您的测试站配备射频探头、光学头或任何其他设备

非常精准、可重复、可追溯、快速且灵活的光子集成电路（PIC）测试。

速度在业内出类拔萃的采样示波器。功能强大，适用于5G生产线

借助该MCB，可在误码率分析仪和光模块间实现串行通信。

高效的时钟数据恢复解决方案，适用于生产线。

支持NRZ和PAM4编码的电误码率分析仪，配备先进的FEC工具，支持800G测试。