使用扫频技术进行光损耗（IL、PDL和RL）与光电流测量
CTP10 - 无源光器件测试平台
概述
性能强大的无源光器件测试平台，适用于测试WDM器件和光子集成电路
应用
亚皮米级分辨率的集成光子器件光谱鉴定
制造和研发环境中的多输出无源光器件测试
WSS和ROADM校准与测试
薄膜滤波器（TFF）鉴定
瞬态现象日志记录功能
使用来自可调谐激光器的电气触发器进行光谱鉴定
亮点
无源光器件测试
使用模块化CTP10，可在数秒内测量插入损耗（IL）、回波损耗（RL）和偏振相关损耗（PDL）。
与 EXFO 扫频可调谐激光器配合使用时，该设备支持广泛的波长和光谱特性，并可选配直接光电流采集功能。
非常适合多端口WDM和PIC的特性分析.
CTP10 简化了光谱表征
一个平台即可完成可调谐激光器的扫描、数据采集、处理、波形显示及分析，适用于IL、RL和PDL——从而帮助缩短设置时间并降低操作复杂度。
热插拔模块、外部触发支持和可扩展架构，可实现快速重新配置、在多达 8 个测试站之间共享激光器，以及通过辅助主机进行 100 多个端口的测试。
CTP10 提供全速谱性能
在集成配置下，CTP10 可在整个工作波长范围内以全速运行并保持业界领先的规格——非常适合 WSS 和环形谐振器等新一代元件。
SCAN SYNC 提供低至 20 fm 的动态波长测量。OPMx 探测器在单次 100 nm/s 扫描中，以 1 pm 分辨率可测量 >70 dB 的动态范围。
