CTP10 - 无源光器件测试平台

概述
性能强大的无源光器件测试平台，适用于测试WDM器件和光子集成电路

主要优点

  • 使用扫频技术进行光损耗（IL、PDL和RL）与光电流测量  
  • 业内率先支持全波段PDL测量，覆盖从1260 nm到1620 nm的波长 
  • 集高动态范围、高精准度、亚皮米级分辨率和高测试速度于一身 
  • 成的解决方案，配备GUI，并内置分析功能  
  • 采用可扩展的架构，适用于研发和制造环境 
  • 两种工作模式：使用专用模块进行的光学触发/使用日志记录功能进行的电气触发 

应用

  • 亚皮米级分辨率的集成光子器件光谱鉴定
  • 制造和研发环境中的多输出无源光器件测试
  • WSS和ROADM校准与测试
  • 薄膜滤波器（TFF）鉴定
  • 瞬态现象日志记录功能
  • 使用来自可调谐激光器的电气触发器进行光谱鉴定

资源

规格书

CTP10
用户手册

CTP10
手册和产品目录

Optical testing solutions for manufacturing and R&D
博客

Hollow-core fiber: power and precision for critical networks
手册和产品目录

无源元器件鉴定
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奖项和荣誉 

创新和领导力一直是EXFO关注的核心和首要问题。每年，我们都努力开发出可在更智能的现代网络中确保优异客户体验的解决方案。得到这样的认可始终是一项殊荣。了解公司所获奖项的详情： 

Judge

通过强大的数据处理功能，可对 1240 nm 至 1680 nm 波长范围内的插入损耗和 PDL 进行高精度自动测量，大大缩短了测试时间。

无源光器件测试平台内的先进模块

支持

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