PIC 自动测试站 我们的测试站采用最先进的设备,确保在任何情况下都能满足要求。无论您是要测试用于研发的单个芯片,还是要测试整个生产晶圆,我们都能为您建立最合适的测试站。 在光子集成电路 (PIC) 方面,EXFO 的适应性测试站可处理从单个芯片到整个生产晶圆的任何情况。根据需要,为您的测试站配备射频探头、光学头或任何其他设备 如何购买 询价 查找销售代表 安排演示 咨询专家 实验室和制造测试 Filters 如何购买 询价 查找销售代表 安排演示 咨询专家 3 产品 新品 OPAL-EC | 高级晶圆级边缘耦合 | EXFO 精准、 灵活、快速地测试光子集成电路(PIC),提供可追溯的测试结果。 规格书 OPAL-MD 规格书 OPAL-SD - 单裸片自动化探针台 非常精准、可重复、可追溯、快速且灵活的光子集成电路(PIC)测试。 规格书