CTP10 - plataforma de prueba de componentes ópticos pasivos

Resumen

Inigualable plataforma de prueba de componentes ópticos pasivos para redes DWDM y circuitos integrados fotónicos

Características principales

Medición de longitud de onda de barrida de pérdida de inserción (IL) y pérdida de retorno (RL) más rápida de la industria
Sistema electrónico de vanguardia que permite una caracterización dinámica completa en una sola barrida
Aloja diez módulos removibles sin desconexión para componentes de pruebas con hasta 50 salidas ópticas
GUI sólida e intuitiva que facilita la configuración de pruebas y el análisis de mediciones
Compatible con fibra de núcleo hueco (hollow core fiber)

Medición de longitud de onda de barrida de pérdida de inserción (IL) y pérdida de retorno (RL) más rápida de la industria

Sistema electrónico de vanguardia que permite una caracterización dinámica completa en una sola barrida

Aloja diez módulos removibles sin desconexión para componentes de pruebas con hasta 50 salidas ópticas

GUI sólida e intuitiva que facilita la configuración de pruebas y el análisis de mediciones

Compatible con fibra de núcleo hueco (hollow core fiber)

Spectral characterization of integrated photonic components at sub-picometer resolution
Multiple-output passive optical component testing in manufacturing and R&D
WSS and ROADM calibration and tests
Thin film filters (TFF) characterization
Logging function for transient phenomenon
Spectral characterization using electrical trigger from tunable laser

Spectral characterization of integrated photonic components at sub-picometer resolution

Multiple-output passive optical component testing in manufacturing and R&D

WSS and ROADM calibration and tests

Thin film filters (TFF) characterization

Logging function for transient phenomenon

Spectral characterization using electrical trigger from tunable laser