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非常灵活且面向未来的1G至800G多业务测试解决方案，适用于实验室研发和现场测试等应用，支持现有的400G/200G光模块和下一代可插拔光模块。

OSICS ATN模块集成了行业标准的衰减器元器件。它结合60 dB衰减范围，可在很大的波长范围内工作。

多功能光损耗测试设备（OLTS），可通过全自动的 双向FasTest™分析功能，在5秒的时间内，完成两 个波长的插损（IL）、光回损（ORL）和光纤长度 测量。

可集成到LTB与FTB平台中的耦合器和分光器。

MXS-9100 MEMS MxN矩阵光开关针对EXFO系统和软件控制进行了优化，允许任何输入光纤以完全无阻塞的方式连接到任何输出光纤。

精选的单波长或多波长、多模发光二极管（LED）与单模分布式反馈（DFB）激光器，是进行插入损耗（IL）和光回损（ORL）测试以及FTTx元器件验证的完美选择。