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非常灵活且面向未来的1G至800G双端口测试解决方案，适用于实验室研发和现场测试等应用，支持 现有和下一代的可插拔光模块。

采用极其灵活的设计，支持400G测试。可直接进行 400G测试，或者首先从100G测试开始，以后再升 级到400G测试。

一流的1.6T电误码率分析仪，提供4通道和8通道PAM4编码选件，实现非常灵活的测试配置。