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SPSB-EF - 环形通量(EF)测试解决方案

初级/中级解决方案,带可控的光源注入条件,提供最高的精度和可重复性,旨在消除多模光纤测试的不确定性。

规格表 (PDF)

所有产品 SPSB-EF - 环形通量(EF)测试解决方案
所有产品 SPSB-EF - 环形通量(EF)测试解决方案

主要优点

  • 依据TIA -526-14-B和IEC 61280-4-1 Ed. 2.0,满足EF要求
  • 针对多模损耗测试进行了优化
  • 按照TIA-568推荐方法,进行初级和终极多模光纤测试
  • 参考级UPC连接器,提供最高的精度和可重复性
  • 符合EF要求的内置光源 ——不需要其它设备进行操作

应用

  • 数据中心/高速链路
  • 企业网和专用网

描述

了解EF

环形通量(EF)是个新标准,规定如何按照TIA-526-14-B和IEC 61280-4-1 Ed. 2.0的规定,控制光源注入条件。

无论是为了扩展企业网业务还是大容量数据中心,采用多模光纤建立的新高速数据网络运行的容限比以往更加严格。

这些多模光纤测试起来最为复杂,因为测试结果在很大程度上取决于每个设备的输出情况。采用不同设备进行测试经常会返回不同的测试结果,有时甚至会高于预算损耗。这可能会误导技术人员,或使得无法定位故障,造成开通失败或网络故障时间延长。目前,光缆安装人员可以采用初级损耗测试结果来进行非常精确的中级故障诊断,并确信能够发现真正的问题。

一致性和可重复性

无论是内置或封装在外接注入调节器中,EXFO都可以对每台符合EF标准的设备进行微调,确保每台设备在测试时间为50 μs,波长为850和1300 nm时其结果都符合EF模板要求。这使得技术人员和承包商能够在构建期间获得可靠、一致、可重复的结果,从而消除任何疑问和不确定因素。生成的测试文档也可以保证建立面向未来的网络。在需要升级时,技术人员和承包商可迅速了解必须激活哪些电路,从而节约时间和并减少线路故障。

发射和接收光缆的重要性

经常会使用OTDR进行链路鉴定。然而,虽然OTDR的盲区最短,在链路中测量损耗的方式意味着为了鉴定第一个和最后一个连接器,OTDR需要发射光缆(也称为脉冲抑制盒)。

其原因是与事件有关的损耗是在事件前后测定的背散射之差。为了计算盲区,必须知道第一个连接器前的背散射大小。这就需要在OTDR端口和被测光纤的第一个连接器之间插入一段光纤。在光纤的另一端,在最后一个光纤后插入同样长度的光纤。

为了测量第一个和最后一个连接器的损耗,使用发射和接收光缆非常重要。SPSB-EF里有一段长达30米的光纤,用来完整测量端到端损耗,并维持直至链路第一个连接器的EF注入条件。通过满足EF标准要求,可轻松定位有故障的连接器并诊断高速多模链路故障。

SPSB-EF - 环形通量(EF)测试解决方案

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