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应对复杂难懂的PDL扫频测量问题

白皮书

4态穆勒(Mueller)矩阵法已成为PDL扫频测量的行业标准方法,这是因为它的精度高、支持皮米级分辨率且测试速度快。

然而,人们普遍对穆勒矩阵法存在误解,尽管这种方法在研发和制造中被广泛用于IL-PDL扫频测量,但业内对它的了解却不够深入全面。

本文深入探讨了穆勒矩阵法的参数,是每个测试工程师的必读内容。

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主要知识点

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关于作者

  • Mathieu Bergont

    Product Specialist

    Mathieu Bergont is a product specialist at EXFO, with a focus on solutions for testing passive optical components in lab and manufacturing environments. Mathieu has over eight years of experience in the field of fiber optic testing and holds a Master of Engineering in Material Science, Semiconductors and Micro-Nanotechnologies from INSA Lyon in France.

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