fr
A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z 0-9

Pour ajouter des favoris à une liste, vous devez être connecté à votre compte.

Me connecter Créer un compte

Tests pour circuits intégrés photoniques

Des tests souples, exacts et rapides pour les circuits intégrés photoniques : assurez la fiabilité de vos composants optiques de prochaine génération.

Vos défis

  • Fiabilité des mesures pour les composants optiques complexes d’aujourd’hui
  • Nécessité de tests sur plaquettes
  • Rapidité et efficacité des tests pour circuits intégrés photoniques
  • Exactitude de l’évaluation de la qualité des composants
  • Automatisation pour des tests à grande échelle
  • Aucune expertise des tests photoniques

Description

Les circuits intégrés photoniques sont bien connus dans le monde des télécommunications, principalement en raison du développement effréné des émetteurs-récepteurs et des composants passifs, qui sont plus petits, plus rapides, plus abordables et plus écologiques que leurs homologues optiques de masse. Ils ont aussi le vent en poupe dans d’autres secteurs (laboratoire sur puce, technologie de télédétection par laser, informatique quantique, etc.), tant du point de vue commercial qu’en recherche.

Des tests souples, exacts et rapides pour les circuits intégrés photoniques

1. Tester les composants actifs

Il est assez simple de tester les composants actifs des circuits intégrés photoniques, comme les lasers et les amplificateurs.

On peut par exemple brancher un analyseur de spectre optique à la source lumineuse ou à la sortie laser à tester et obtenir facilement le signal spectral des sources, comme on le voit ci-dessous.

Figure 5. Test des composants actifs avec l’analyseur de spectre optique

Les analyseurs de spectre optique de pointe ont l’avantage d’être très rapides, effectuant jusqu’à cinq balayages par seconde à une vitesse de 2000 nm/s, ce qui est assez rapide pour l’alignement des composants en temps réel. Ils offrent aussi une résolution suffisamment élevée pour permettre la mesure de paramètres clés comme le rapport signal-bruit optique et le taux de suppression des modes latéraux.

2. Tester les composants passifs

Pour les tests des composants passifs, le CTP10 donne des résultats rapides, exacts et fiables, quelles que soient les conditions de test. Il peut caractériser les propriétés spectrales de 50 ports optiques en un seul balayage avec une résolution de 1 pm et plus de 75 dB de plage dynamique, même pour un balayage à 100 nm/s. Son système électronique et son processeur interne facilitent le transfert de données. Le CTP10 peut être commandé à distance à l’aide de commandes SCPI, ce qui facilite son intégration dans une installation de tests automatisés pour circuits intégrés photoniques.

La plateforme de test des composants du CTP10 est un système de détection multiports qui fonctionne avec le laser réglable T100S-HP pour mesurer la perte d’insertion et la perte de retour. Une telle plateforme modulaire peut accueillir jusqu’à 50 wattmètres, ce qui convient donc aux appareils à ports multiples comme les AWG, et contrôler plusieurs lasers réglables pour effectuer des mesures en parallèle, ce qui augmente le débit et réduit le temps de test.

CTP10 – Plateforme de test pour composants optiques passifs

Pour les tests de composants optiques passifs, le CTP10 donne des résultats rapides, exacts et fiables dans toutes les conditions de test pour les besoins de la R-D et de la fabrication. Il permet une caractérisation haute résolution, même pour les caractéristiques spectrales à fort contraste.

Avantages clés

Améliorez le rendement de votre production grâce à des solutions de qualité R-D qui fournissent rapidement les meilleures mesures de la catégorie. Les composants actifs (par exemple les lasers à l’intérieur des émetteurs-récepteurs et les amplificateurs optiques à semiconducteurs) peuvent être caractérisés en quelques secondes avec l’OSA20.

Les composants optiques passifs peuvent être testés par le CTP10 à des résolutions au picomètre près, même dans des conditions difficiles.

La flexibilité est la clé dans la course à la 5G. Conçues pour l’avenir en collaboration avec des groupes de recherche, ces solutions peuvent être intégrées dans n’importe quel système de test sur plaquette, alignement compris. Le CTP10 est une plateforme modulaire évolutive à laquelle des fonctions supplémentaires ou nouvelles pourraient être ajoutées au fil du temps. Il est compatible avec plusieurs lasers réglables.

Le CTP10 s’intègre dans un répartiteur principal; pour tester les composants, il suffit d’appuyer sur un bouton.

L’OSA20 et le CTP10 sont déjà équipés de fonctions d’analyse et de configurations de test spéciales, pour une configuration facile.

Et leurs interfaces graphiques conviviales ne font aucun compromis sur la performance.

Une gamme complète de commandes d’automatisation SCPI permet à l’utilisateur de contrôler l’équipement de test à distance et de l’intégrer dans une installation de test de recherche ou un banc d’essai de production.

Applications

  • Tests pour composants actifs et passifs
  • Caractérisation des modulateurs Mach-Zehnder
  • Tests pour AWG
  • Mesure spectrale des résonateurs en anneau
  • Émetteur-récepteur : test du laser

Gardons le contact!

Tests, monitoring et analyse de réseaux : soyez à l’affût de l’actualité!

Thank you.